Sun Microsystems heeft zijn internationale RFID Test Centre samengevoegd met het Sun Advanced Product Testing (APT) laboratorium. Hiermee biedt Sun klanten de mogelijkheid RFID- en sensoroplossingen van meerdere leveranciers niet alleen te testen op interoperabiliteit en naleving van industriële standaarden en mandaten, maar ook op buitengewone omstandigheden, zoals extreme hitte en koude, aardschokken, vochtigheid, trillingen, hoogte en (lucht)druk.

“Ons RFID Test Centre is succesvol geweest in het ondersteunen van onze klanten bij hun eerste stappen richting de implementatie van omvangrijke RFID oplossingen”, aldus Jim Del Rossi, directeur van Sun’s RFID Facility. “De combinatie met Sun APT laboratorium stelt hen nu in staat de volgende stap te zetten; het uitvoeren van extreme praktijkgerichte testen die te vinden zijn in militaire-, ruimtevaart-, transport-, medische-, en andere werksituaties.”