Het Rotterdamse Nearfield Instruments heeft circa 330 miljoen euro opgehaald. De Series D-investeringsronde maakt het daarmee 1,4 miljard euro waard. Naast het behalen van ‘unicorn’-status is de ronde tevens de grootste aller tijden van een Nederlands bedrijf.
De chipindustrie zit met een probleem dat zowel piepklein als levensgroot is. Omdat de meest geavanceerde procedés voor nieuwe processoren op bijna atomair niveau zitten en in drie dimensies een chip bouwen, zijn foutmarges minimaal. Die fouten opsporen blijkt een hels karwei, en dat is precies waar Nearfield Instruments zich in onderscheidt.
Een kleine fout in het fabricageproces kan een chip onbruikbaar maken. Te veel fouten tasten de opbrengsten aan en drijven de kosten omhoog. De oplossing daarvoor klinkt bijna even complex als wat het controleert. Nearfield ontwikkelt namelijk 3D-metrologiesystemen voor het meten van microscopische structuren op siliciumwafers. Het Quadra-platform voert 3D-scans uit zonder de wafer te beschadigen. Daarmee kunnen chipfabrikanten fouten tijdig detecteren en het productieproces direct bijsturen.
Van 135 miljoen naar 330 miljoen euro
Nearfield haalde twee jaar geleden al een fors bedrag op. In juli 2024 haalde het al 135 miljoen euro binnen in een Series C-ronde, destijds ook met deelname van de nu bijdragende Walden Catalyst en Temasek. Daarvoor ontving Nearfield overheidssubsidie als onderdeel van een pakket van 230 miljoen euro dat het kabinet-Rutte IV beschikbaar stelde aan Nearfield, NXP en ASML. In februari vorig jaar maakte CEO Hamed Sadeghian plannen bekend voor een beursgang in 2027 of uiterlijk 2028.
Met het nieuwe kapitaal wil Nearfield de eigen productiecapaciteit vergroten, technologische innovatie versnellen en meerdere Applications Centers of Excellence wereldwijd openen. Dat ondersteunt de samenwerking met grote chipfabrikanten. Sadeghian stelt dat de ronde het strategisch belang van zijn bedrijf in de mondiale chipketen onderstreept. “Het is een definiërend moment op onze reis en reflecteert het groeiende strategisch belang van metrologie en inspectie in het tijdperk van AI-gedreven halfgeleiderinnovatie,” aldus de CEO.